透射电镜实验

      透射电镜实验（Transmission Electron Microscope,简称TEM）,可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。

      实验原理是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，制备超薄切片(通常为50～100 nm)。要在机体死亡后的数分钟内取材，组织块要小(1mm3以内)，常用戊二醛和锇酸双重固定，包埋介质包埋,用超薄切片机切成薄片，再经醋酸铀和柠檬酸铅等进行电子染色。

      实验流程1.取材  2.固定  3.脱水  4.包埋  5.固化  6.超薄切片机切片(50-60 nm)   7.3%醋酸铀-枸橼酸铅双染色   8.透射电镜观察，拍片

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